Optris PI 1M – 用於金屬、鋼鐵、陶瓷、半導體產業的精密短波紅外線熱像儀-產品介紹-勝捷股份有限公司

Optris PI 1M – 用於金屬、鋼鐵、陶瓷、半導體產業的精密短波紅外線熱像儀

商品編號

產品資訊

Optris PI 1M 是一款專為高溫、光亮金屬表面設計的短波熱像儀，提供精確的非接觸式溫度量測。工作波段為 0.85～1.1 µm，適合金屬放射率較高的光譜區域，有助於降低長波量測常見的反射誤差。適用材料包括金屬、合金、鋼、鐵、銅、黃銅、錫、碳及半導體，可用於金屬加工、雷射製程與研究分析。

PI 1M 提供 450 °C 至 1800 °C 的單一連續測溫範圍，無需切換子量程。短波量測設計有助於降低放射率不確定性對溫度讀值的影響，提升高溫反射性表面的量測穩定性與重複性；搭配高距離光點比，可從適當距離監測小型目標。

相機提供多種影像擷取模式，兼顧畫面細節與製程速度。764 × 480 像素模式提供 32 Hz 更新率；382 × 288 像素模式可達 80 Hz。針對快速事件，72 × 56 像素高速模式最高可達 1 kHz；764 × 8 像素子影像模式亦支援 1 kHz 線掃描，適合連續製程的溫度分布監測。

透過 USB 與可配置的類比、數位介面，PI 1M 可整合至控制系統。搭配 PIX Connect 軟體，可執行線掃描、影像合併、資料記錄及警報設定，協助掌握製程中的溫度變化與異常。

本產品於德國設計與製造，可搭配安裝配件及線材，配置於爐體、反應器與生產線。選配水冷外殼後，可用於最高 315 °C 的環境溫度；空氣吹掃裝置有助於保持光學元件清潔，另提供雷射應用所需的選配陷波濾光片，滿足不同現場需求。

產品特色

短波高溫金屬量測

採用 0.85～1.1 µm 波段，連續測溫 450°C～1800°C，降低高溫反射表面的量測誤差。

高解析與彈性影像模式

764 × 480 像素提供 32 Hz；382 × 288 像素提供 80 Hz，兼顧細節與動態監測。

最高 1 kHz 高速擷取

72 × 56 像素高速模式及 764 × 8 像素線掃描模式皆可達 1 kHz。

製程整合與軟體分析

支援 USB 及可配置類比與數位介面，搭配 PIX Connect 進行線掃描、資料記錄及警報設定。

產品描述與功能深度解析

I. 短波紅外線熱像技術｜適用高溫金屬與複雜材料量測

Optris PI 1M 是一款兼具創新設計、經濟性與高精度的短波紅外線熱像儀，專為對複雜物體進行非接觸式熱成像而設計。其工作波長位於短波紅外線波段（1M：0.85 – 1.1 μm），特別適合測量高溫鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷以及半導體等材料的表面溫度，可進行精確的溫度分析。憑藉寬廣的溫度測量範圍、高精度性能以及可自訂的視場配置，PI 1M 能夠滿足各種工業與科研應用需求。

II. 短波光譜優勢｜提升金屬與光亮材料量測可靠性

許多非光澤材料在長波紅外線光譜範圍內通常具有較高且穩定的發射率，與表面均勻性關聯較小。然而，金屬與光亮材料在長紅外線波段的發射率通常較低，容易導致測量結果不穩定且可靠性降低。Optris PI 1M 也特別針對金屬增材製造應用進行設計，並可搭配可選的陷波濾波器，使其幾乎適用於各類雷射加工應用。PI 1M 的短波光譜範圍與多數金屬材料的最高發射率相匹配，能有效簡化遠距離溫度測量。根據普朗克輻射定律，短波長範圍內的紅外線輻射會呈指數級增加，因此發射率變化對短波長溫度測量重複性的影響較小。這使得 PI 1M 在金屬材料測量方面具有更高的可靠性與準確性。該熱像儀在德國設計與製造，專為嚴苛工業環境打造，在精度、準確度與重複性方面均優於長波紅外線熱像儀。

III. 高溫量測與高速影像擷取｜適用動態製程監測

PI 1M 紅外線熱像儀可在單一量程內測量 450°C 至 1800°C 的溫度，同時提供高解析度熱影像，使其成為眾多工業環境中進行精確溫度分析的理想工具。其優異的距離光斑比使設備即使在遠距離條件下仍能保持準確的溫度讀數。為滿足不同應用需求，此紅外線熱像儀提供多種幀速率與子影像模式。在 764 × 480 像素解析度下，幀速率為 32 Hz，可確保成像清晰且細節完整；當切換至 382 × 288 像素解析度時，幀速率可提升至 80 Hz，非常適合捕捉快速移動的物體或動態製程。對於需要監測快速溫度變化的應用情境，系統還可在 72 × 56 像素解析度下以 1 kHz 的幀速率運作，以精確捕捉瞬時熱變化。

IV. 線掃描與系統整合能力｜適用嚴苛工業環境

PI 1M 亦提供 764 × 8 像素、1 kHz 取樣率的寬幅子影像模式，非常適合線掃描應用，可沿連續線進行精確的溫度監測，並廣泛應用於工業與科研領域。該紅外線熱像儀可透過 USB 連接埠輕鬆連接至電腦，並搭配 PIX Connect 軟體使用，使使用者能夠運用線掃描、影像合併以及熱影像分析等功能。該軟體對需要可靠熱影像處理與溫度資料採集的研究人員與工程師而言十分重要，同時也提供開發套件以支援客製化軟體解決方案。PI 1M 亦可搭配多種專為嚴苛環境設計的配件，例如水冷外殼可使相機在高達 315°C 的環境溫度下運作，而空氣吹掃裝置則能保持鏡頭清潔，即使在多塵環境中仍能維持精確測量。此外，完整的機械安裝配件、電氣介面與連接電纜，使 PI 1M 能夠輕鬆整合至各種系統配置與工業應用之中。

Optris PI 1M 規格

產品型號 Model Number	PI 1M 9° × 6°	PI 1M 13° × 8°	PI 1M 27° × 17°	PI 1M 27° × 17°	PI 1M 41° × 25°
感測器 Detector
光學解析度 Optical resolution	764 × 480 像素	764 × 480 像素	764 × 480 像素	764 × 480 像素	764 × 480 像素
像素間距 Pixel pitch	15 µm	15 µm	15 µm	15 µm	15 µm
感測器 Detector	CMOS	CMOS	CMOS	CMOS	CMOS
光譜範圍 Spectral Range	0.85–1.1 µm	0.85–1.1 µm	0.85–1.1 µm	0.85–1.1 µm	0.85–1.1 µm
光學濾光片 Optical Filter	可選的 1064 nm 陷波濾波器	可選的 1064 nm 陷波濾波器	可選的 1064 nm 陷波濾波器	可選的 1064 nm 陷波濾波器	可選的 1064 nm 陷波濾波器
幀率 Frame rate	全解析度：32 Hz 子幀模式：80 Hz（可切換至 27 Hz）快速子幀模式：1 kHz 線掃描：1 kHz
光學 Optical
視野 Field of View	9° × 6°	13° × 8°	27° × 17°		41° × 25°
焦距 Focal length [mm]	75.0	50.0	25.0	25	16.0
F值／光圈值 F Number	2.8	2.8	1.8	1.8	2.0
光學分辨率 Distance to Spot ratio (D:S)	1280 : 1	833 : 1	400 : 1		255 : 1
目標最小距離 Minimum Distance to target	1000 mm	500 mm	100 mm		100 mm
可互換光學元件 Interchangeable optics	可更換	可更換	可更換	可更換	可更換
測量 Measurement
目標溫度範圍 Object Measurement Range	450–1800 °C	450–1800 °C	450–1800 °C	450–1800 °C	450–1800 °C
精度 Accuracy	對於溫度低於 1400 °C 的物體： 27/32/80 Hz 時讀數的 ±1% / 1 kHz 時讀數的 ±1.5% 對於溫度低於 1600 °C 的物體： 27/32/80 Hz 時讀數的 ±2% / 1 kHz 時讀數的 ±2.5%
熱靈敏度 NETD	< 2 K (< 900 °C) < 4 K (< 1400 °C)	< 2 K (< 900 °C) < 4 K (< 1400 °C)	< 2 K (< 900 °C) < 4 K (< 1400 °C)	< 2 K (< 900 °C) < 4 K (< 1400 °C)	< 2 K (< 900 °C) < 4 K (< 1400 °C)
最小可偵測光斑尺寸（IFOV）：1 像素 Smallest detectable Spot Size IFOV: 1 pixel	0.2 mm	0.2 mm	0.1 mm	0.1 mm	0.1 mm
最小可測量光斑尺寸 Smallest measurable Spot Size MFOV	0.8 mm	0.8 mm	0.4 mm	0.4 mm	0.4 mm
測量視場 MFOV Measurement Field of View	4 × 4 像素	4 × 4 像素	4 × 4 像素	4 × 4 像素	4 × 4 像素
熱機時間 Warm-up time	10 min	10 min	10 min	10 min	10 min
發射率／透射率／反射率 Emissivity / Transmissivity / Reflectivity	可調整範圍： 0.100–1.100	可調整範圍： 0.100–1.100	可調整範圍： 0.100–1.100	可調整範圍： 0.100–1.100	可調整範圍： 0.100–1.100