Optris PI 08M – 用於3D列印、雷射加工和增材製造的短波紅外線熱像儀-產品介紹-勝捷股份有限公司

Optris PI 08M – 用於3D列印、雷射加工和增材製造的短波紅外線熱像儀

商品編號

產品資訊

Optris PI 08M 是一款專為複雜雷射製造流程設計的短波熱像儀，工作波段為 0.78～0.82 µm，適合高溫、反射性表面的非接觸式溫度量測，可應用於近紅外線（NIR）與 CO₂ 雷射製程。連續測溫範圍涵蓋 575 °C 至 1900 °C，搭配靈活的視場配置，滿足工業製程與研究中的高溫監測需求。

金屬材料在長波紅外線波段通常具有較低且易變動的放射率，量測結果容易受到反射與表面狀態影響。PI 08M 採用適合高溫金屬量測的短波波段，有助於降低放射率不確定性及反射造成的誤差，提升量測重複性與製程監控的穩定性。本產品於德國製造，並具備高距離光點比，方便在適當工作距離下量測目標。

PI 08M 提供多種影像擷取模式，可依製程速度與細節需求選擇。764 × 480 像素模式提供 32 Hz 更新率，保留完整畫面細節；382 × 288 像素模式可達 80 Hz，適合追蹤移動目標與快速溫度變化。針對瞬間事件，72 × 56 像素高速模式最高可達 1 kHz；764 × 8 像素子影像線掃描模式亦可達 1 kHz，適合帶材、接縫或旋轉零件的連續溫度分布監測。

相機透過 USB 連接，方便設定與資料傳輸。搭配 PIX Connect 軟體，可進行線掃描、影像合併及輻射測溫分析，協助使用者整理與分析製程資料。另提供開發套件，支援客製化軟體、設備整合與自動化應用，滿足不同工業及研究需求。

產品特色

雷射製程與高溫金屬量測

採用 0.78～0.82 µm 波段，連續測溫 575°C～1900°C，適合高溫反射表面及雷射製程。

高解析與彈性影像模式

764 × 480 像素提供 32 Hz；382 × 288 像素提供 80 Hz，兼顧細節與動態監測。

最高 1 kHz 高速擷取

72 × 56 像素高速模式及 764 × 8 像素線掃描模式皆可達 1 kHz。

USB 連接與軟體分析

搭配 PIX Connect，支援線掃描、影像合併與輻射測溫分析，並提供客製化開發套件。

產品描述與功能深度解析

I. 短波紅外線熱成像技術｜專為金屬增材製造應用設計

Optris PI 08M 是一款短波紅外線熱像儀，結合先進設計、高性價比與高精度測量能力。該設備針對 0.78 至 0.82 μm 的光譜範圍進行最佳化，適用於對複雜物體進行非接觸式熱成像。PI 08M 專為採用近紅外線 (NIR) 和二氧化碳 (CO2) 雷射的金屬增材製造流程設計，可精確獲取表面溫度數據。其寬廣的溫度測量範圍、高精度以及可配置的視場角選項，使其能夠滿足多種工業領域對高精度溫度監測的需求。

II. 短波光譜優勢｜提升金屬與反射材料測量可靠性

一般而言，非反射材料在長波紅外線光譜範圍內通常具有較均勻且穩定的發射率；然而金屬與其他反射材料在這些波長的發射率較低，可能降低溫度測量的可靠性。PI 08M 紅外線相機所採用的短波探測能力，與大多數金屬的峰值發射率相對應，能夠提升遠距離溫度測量的可靠度。依據普朗克輻射定律，短波紅外線區域具有更高的輻射強度，因此能降低發射率變化對溫度測量重複性的影響。對於高溫下的反射材料進行精確測量時，短波長紅外線熱像儀如 PI 08M 是理想的選擇。該設備在德國製造，專為嚴苛工業環境設計，相較於長波長熱像儀能提供更高的精度、準確度與測量重複性。

III. 高溫量測與高速影像擷取｜適用動態製程監測

PI 08M 採用寬廣的光譜範圍設計，測量溫度範圍為 575°C 至 1900°C，可連續監測多種高溫製程，適用於多數近紅外線與二氧化碳雷射加工應用。其高距離光斑尺寸比使設備能夠在較遠距離下仍保持精確的溫度量測能力。為滿足不同應用需求，此紅外線熱像儀提供多種幀速率與子影像模式。在 764 × 480 像素解析度下，幀速率可達 32 Hz，能呈現清晰且細節豐富的熱影像；在 382 × 288 像素解析度下，幀速率可提升至 80 Hz，適合監測快速移動的物體。對於需要更高速溫度偵測的應用，系統亦可在 72 × 56 像素解析度下以 1 kHz 的幀速率運作，以捕捉瞬時的溫度變化。

IV. 線掃描監測與系統整合能力｜適用嚴苛工業環境

PI 08M 亦支援 764 × 8 像素、1 kHz 取樣率的寬幅子影像模式，特別適用於線掃描應用，可沿連續線進行精確的溫度監測，滿足多種工業與科研測量需求。該紅外線熱像儀透過 USB 連接埠與電腦連接，可輕鬆整合至既有系統中。設備搭配 PIX Connect 軟體使用，可啟用線掃描、影像合併及熱影像處理等進階功能，使研究人員與製程工程師能夠進行完整的溫度資料擷取與分析。PIX Connect 同時提供開發套件，供系統整合商開發客製化軟體解決方案。PI 08M 亦可搭配多種適用於惡劣環境的配件，例如水冷式外殼可將工作溫度範圍擴展至 315°C，而空氣吹掃裝置則可在多塵環境中保持鏡頭清潔。此外，機械安裝附件、電氣介面與連接電纜等完整配件組合，使 PI 08M 能夠靈活整合至各種工業系統與應用場景。

Optris PI 08M 規格

產品型號 Model Number	PI 08M 27° × 17°	PI 08M 41° × 25°
感測器 Detector
光學解析度 Optical resolution	764 × 480 像素	764 × 480 像素
像素間距 Pixel pitch	15 µm	15 µm
感測器 Detector	CMOS	CMOS
光譜範圍 Spectral Range	780–820 nm	780–820 nm
光學濾光片 Optical Filter	無	無
幀率 Frame rate	全解析度：32 Hz 子幀模式：80 Hz（可切換至 27 Hz）快速子幀模式：1 kHz 線掃描：1 kHz
光學 Optical
視野 Field of View	27° × 17°	41° × 25°
焦距 Focal length [mm]	25.0	16.0
F值／光圈值 F Number	1.8	2.0
光學分辨率 Distance to Spot ratio (D:S)	561 : 1	353 : 1
目標最小距離 Minimum Distance to target	100 mm	100 mm
可互換光學元件 Interchangeable optics	可更換	可更換
測量 Measurement
目標溫度範圍 Object Measurement Range	575–1900 °C	575–1900 °C
精度 Accuracy	對於溫度低於 1500 °C 的物體： 27/32/80 Hz 時讀數的 ±1% / 1 kHz 時讀數的 ±1.5% 對於溫度高於 1500 °C 的物體： 27/32/80 Hz 時讀數的 ±2% / 1 kHz 時讀數的 ±2.5%
熱靈敏度 NETD	< 2 K (1000 °C)	< 2 K (1000 °C)
最小可偵測光斑尺寸（IFOV）：1 像素 Smallest detectable Spot Size IFOV: 1 pixel	0.1 mm	0.1 mm
最小可測量光斑尺寸 Smallest measurable Spot Size MFOV	0.4 mm	0.4 mm
測量視場 MFOV Measurement Field of View	4 × 4 像素	4 × 4 像素
熱機時間 Warm-up time	10 min	10 min
發射率／透射率／反射率 Emissivity / Transmissivity / Reflectivity	可調整範圍： 0.100–1.100	可調整範圍： 0.100–1.100