產品描述與功能深度解析
I. 超短波紅外線熱像技術|高溫金屬與增材製造應用
Optris PI 05M 是一款超短波長紅外線熱像儀,專為高溫目標的非接觸式溫度測量而設計。其工作波長位於短波紅外線波段(0.50–0.54 μm),特別適用於熔融金屬等高溫材料的精確溫度分析,也可應用於使用近紅外線 (NIR) 與二氧化碳 (CO2) 雷射的增材製造流程。PI 05M 具備廣泛的溫度測量範圍與高精度量測能力,能夠滿足各種嚴苛的工業應用需求。
II. 短波光譜優勢|提升金屬與反射材料測量可靠性
PI 05M 熱像儀配備 27° × 17° 視場角鏡頭,可在工業環境中實現精細的熱成像與精確溫度分析,適合監測高溫材料與複雜的增材製造製程。一般而言,非反射材料通常具有較穩定的發射率,尤其在長波光譜範圍內;然而金屬與反射材料在長波紅外線波段的發射率通常較低,容易降低測量結果的可靠性。PI 05M 所使用的短波波段對應於多數金屬較高的發射率,因此可提升遠距離溫度測量的穩定度與準確性。依據普朗克輻射定律,短波波段能釋放更多紅外線輻射,能有效降低發射率變化對測量重複性的影響。因此,對於高溫反射材料的精確測量,建議採用超短波紅外線熱像儀。PI 05M 在德國製造,符合工業標準,相較於長波紅外線熱像儀具有更高的精度、準確度與重複性。
III. 高溫量測與高速影像擷取|適用快速製程監測
PI 05M 的光譜頻寬為 0.50–0.54 μm,連續測量溫度範圍為 900°C 至 2450°C,適用於熔融金屬、高溫材料及多數近紅外線與 CO2 雷射加工應用。該熱像儀提供多種幀速率與子影像模式,可依不同應用需求進行調整。在 764 × 480 像素解析度下,其幀速率為 32 Hz,可提供高品質熱影像;在 382 × 288 像素模式下,幀速率可提升至 80 Hz,適合監測快速移動的物體或動態製程。對於溫度快速變化的應用情境,系統亦可在 72 × 56 像素解析度下以 1 kHz 的幀速率運作,以精確捕捉瞬時熱變化。
IV. 線掃描與系統整合能力|適用嚴苛工業環境
PI 05M 還提供 764 × 8 像素、1 kHz 取樣率的子影像模式,專為線掃描應用而設計,可沿著連續線進行精確的溫度監測,支援多種工業量測與成像任務。此熱像儀透過 USB 連接電腦,並相容於 PIX Connect 軟體,該軟體提供線掃描、影像合併及熱影像處理等功能,並可進行完整的溫度資料擷取。PIX Connect 軟體免費提供,亦為需要客製化整合的系統整合商提供開發套件。PI 05M 同時可搭配多種專為惡劣環境設計的配件,例如水冷外殼可將熱像儀的工作溫度範圍擴展至 315°C,而空氣吹掃裝置則可在多塵環境中保持鏡頭清潔。此外,機械安裝組件、電氣介面與連接電纜等配件可協助將 PI 05M 無縫整合至既有工業系統,確保熱成像應用的穩定與可靠運作。








